Numéro
J. Physique Lett.
Volume 42, Numéro 8, avril 1981
Page(s) 167 - 170
DOI https://doi.org/10.1051/jphyslet:01981004208016700
J. Physique Lett. 42, 167-170 (1981)
DOI: 10.1051/jphyslet:01981004208016700

Observation of surface plasmons by transition radiation from smooth aluminium films

A. Humbert, J.M. Debever, H. Dallaporta et J. Hanus

Groupe de Physique des Etats Condensés, Faculté des Sciences de Luminy, 70, route Léon-Lachamp, Case 901, 13288 Marseille cedex 9, France


Abstract
We report the first observation of a strong resonance due to surface plasmons in the transition radiation emitted by films of aluminium deposited on quartz prisms and bombarded with 20 keV electrons. Measurements of the reflectivity of p-polarized light on the same systems show the characteristic attenuated total reflection dip. The correlation of both results and a theoretical analysis allow an unambiguous identification of the resonance phenomenon.


Résumé
Cette lettre décrit la première observation expérimentale d'une résonance due aux plasmons de surface, dans le spectre du rayonnement de transition de films d'aluminium évaporés sur des prismes en quartz et bombardés par des électrons de 20 keV. Cette résonance est comparée au minimum caractéristique observé dans des mesures de réflectivité totale atténuée, effectuées sur les mêmes systèmes. La forte corrélation des deux résultats et une analyse théorique du rayonnement de transition permettent d'identifier sans ambiguïté la résonance du rayonnement de transition.

PACS
7145G - Exchange, correlation, dielectric and magnetic functions, plasmons.
7320 - Electronic surface states.
7870 - Other interactions of condensed matter with particles and radiation.

Key words
aluminium -- metallic thin films -- plasmons -- reflectivity -- surface electron states -- transition radiation -- surface plasmons -- attenuated total reflection dip -- resonance phenomenon -- smooth Al films -- p polarised light reflectivity -- 20 keV electron bombardment