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Article cité :

Focussing of a transient low energy Cs+probe for improved NanoSIMS characterizations

M. Bernheim, T. D. Wu, J. L. Guerquin-Kern and A. Croisy
The European Physical Journal Applied Physics 42 (3) 311 (2008)
https://doi.org/10.1051/epjap:2008062

Evaluation of aberrations of immersion objective lenses in relation to electron emission microscopy

M. Bernheim
The European Physical Journal Applied Physics 36 (2) 193 (2006)
https://doi.org/10.1051/epjap:2006121

Image acquisition with immersion objective lenses using electrons emitted with several tenths of an electron volt energies: Towards high spatial resolution ESCA analysis

M. Bernheim
Ultramicroscopy 106 (4-5) 398 (2006)
https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2005.11.007

Energy threshold and ion yield for H− ions ejected from Si():H(1×1) during low energy electron collisions: study of ESD process in relation with atom manipulation in STM

Marc Bernheim
Surface Science 494 (2) 145 (2001)
https://doi.org/10.1016/S0039-6028(01)01425-X

Dispositif optique pour implantation et micro-usinage par projection d'images ioniques Ion imaging for ion implantation and for micromachining

Marc Bernheim
Radiation Effects 44 (1-4) 11 (1979)
https://doi.org/10.1080/00337577908245976