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Material Effects on Stress-Induced Defect Generation in Trenched Silicon-on-Insulator Structures
W. A. Nevin, K. Somasundram, P. McCann, S. Magee and A. T. Paxton Journal of The Electrochemical Society 148(11) G649 (2001) https://doi.org/10.1149/1.1408636
Theory of dislocations in diamond and silicon and their interaction with hydrogen