Journal de Physique Lettres

Dipolar relaxation effects in Al/SiO2/Si structures investigated by Transient Capacitance Spectroscopy

E. Rosencher, R. Coppard, D. Bois et J.C. Pfister

J. Physique Lett., 45 10 (1984) 493-499

DOI: 10.1051/jphyslet:019840045010049300

E. Rosencher

R. Coppard

D. Bois

J.C. Pfister

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