J. Physique Lett. 40, 227-230 (1979)
DOI: 10.1051/jphyslet:019790040011022700

Microanalyse par radiographie X à balayage et fluorescence X : une conception nouvelle

J. Cazaux

Laboratoire de Spectroscopie des Electrons, Faculté des Sciences, 51062 Reims Cedex, France

Abstract
By X-ray absorption and X-ray fluorescence it is possible to identify the elements of a sample which is sandwiched between an anode and a converter. We determine the choice of the parameters and we evaluate the expected performance of such an arrangement, which also allows bulk (X-ray emission) and surface (Auger, ESCA) microanalysis to be used, with their associated imaging techniques.

Résumé
Par absorption X et fluorescence X il est possible d'identifier les éléments qui composent un échantillon placé en sandwich entre une anticathode et un convertisseur. Nous déterminons le choix des paramètres et nous évaluons les performances prévisibles d'un tel dispositif qui permet aussi la mise en oeuvre d'autres procédés d'analyse en volume (émission X) et en surface (Auger, ESCA) avec les techniques de visualisation qui leur sont associées.

PACS
7870E - X ray emission threshold and fluorescence condensed matter.
7920F - Electron surface impact: Auger emission.
7960 - Photoemission and photoelectron spectra condensed matter.
8280D - Electromagnetic radiation spectrometry chemical analysis.
8280P - Electron spectroscopy for chemical analysis photoelectron, Auger spectroscopy, etc..

Key words
Auger effect -- X ray chemical analysis -- X ray emission spectra -- X ray fluorescence analysis -- X ray photoelectron spectra -- scanning X ray radiography -- X ray fluorescence -- X ray absorption -- anode -- converter -- X ray emission -- Auger -- ESCA -- imaging techniques