Propriétés électroniques des agrégats CrpCn et FepCn mises en évidence par spectrométrie de masse
J. Physique Lett., 40 6 (1979) 131-135
Article cité par
La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).
Article cité :
Citations de cet article :
Electronic structure of small fluorocarbon clusters FpCn (p = 1, 2) observed in secondary ionic mass spectrometry (SIMS). I. Stabilities
M. LeleyterJournal de Physique 48 (11) 1963 (1987)
https://doi.org/10.1051/jphys:0198700480110196300
Etude théorique des alternances pair-impair dans les propriétés des amas Cn, C+n et C- n linéaires
P. Joyes and M. LeleyterJournal de Physique 45 (10) 1681 (1984)
https://doi.org/10.1051/jphys:0198400450100168100
Emission secondaire de petits agregats NipCn par des carbures de nickel
Mireille Leleyter, Pierre Joyes and Marie-Claire CadevilleJournal of Physics and Chemistry of Solids 44 (8) 779 (1983)
https://doi.org/10.1016/0022-3697(83)90010-0
Secondary emission of TipCn ions from TiC alloy
Mireille Leleyter, Sven Ortoli and Pierre JoyesSurface Science 106 (1-3) 293 (1981)
https://doi.org/10.1016/0039-6028(81)90214-4
Analytical microscopy by secondary ion imaging techniques
R Castaing and G SlodzianJournal of Physics E: Scientific Instruments 14 (10) 1119 (1981)
https://doi.org/10.1088/0022-3735/14/10/002