Numéro |
J. Physique Lett.
Volume 41, Numéro 23, décembre 1980
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Page(s) | 555 - 558 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyslet:019800041023055500 |
J. Physique Lett. 41, 555-558 (1980)
DOI: 10.1051/jphyslet:019800041023055500
1 Laboratoire de Physique des Solides, Bât. 510, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France
2 Laboratoire de Minéralogie-Cristallographie, Tour 16, 4, place Jussieu, Université Paris VI, 75005 Paris, France
3 Laboratoire de Pétrographie-Volcanologie, Bât. 504, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France
7920N - Atom , molecule , and ion surface impact and interactions.
8280 - Chemical analysis and related physical methods of analysis.
Key words
isotope effects -- secondary ion emission -- ionization probabilities -- secondary ion emission -- energy distribution curves -- ionization yields -- elemental composition -- bond breaking model -- isotopic effect
DOI: 10.1051/jphyslet:019800041023055500
Isotopic effect on the ionization probabilities in secondary ion emission
G. Slodzian1, J.C. Lorin2 et A. Havette31 Laboratoire de Physique des Solides, Bât. 510, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France
2 Laboratoire de Minéralogie-Cristallographie, Tour 16, 4, place Jussieu, Université Paris VI, 75005 Paris, France
3 Laboratoire de Pétrographie-Volcanologie, Bât. 504, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France
Abstract
It is shown that there are slight differences in the ionization yields of isotopes. The correlations observed between the shape of the energy distribution curves, the magnitude of ionization yields and the elemental composition of the sample are explained within the framework of a bond breaking model.
Résumé
On montre que les rendements d'ionisation sont légèrement différents d'un isotope à l'autre. Les corrélations observées entre la forme des distributions énergétiques, la valeur des rendements d'ionisation et la composition élémentaire de la cible sont expliquées à l'aide d'un modèle de rupture de liaison.
7920N - Atom , molecule , and ion surface impact and interactions.
8280 - Chemical analysis and related physical methods of analysis.
Key words
isotope effects -- secondary ion emission -- ionization probabilities -- secondary ion emission -- energy distribution curves -- ionization yields -- elemental composition -- bond breaking model -- isotopic effect