J. Physique Lett. 42, 219-222 (1981)
DOI: 10.1051/jphyslet:019810042010021900

Temperature and orientation dependences of the E.S.R. linewidth in T.M.M.C.

G. Ablart¹, D. Bourdel¹, J. Pescia¹, S. Clement² et J.P. Renard<sup>2

1</sup>  Laboratoire de Magnétisme et d'Electronique Quantique, 39 Allées Jules-Guesde, 31062 Toulouse cedex, France
²  Institut d'Electronique Fondamentale, Bâtiment 220, Université de Paris XI, 91405 Orsay cedex, France

Abstract
We present new data concerning the E.S.R. linewidth of T.M.M.C: as temperature and orientation are varied. The results obtained are in good agreement with theory in the whole temperature range investigated (30 to 300 K). Typical 1-d behaviour is observed in a very pure, recently grown crystal while some 3-d characteristics occur after fast thermal changes.

Résumé
Nous présentons de nouveaux résultats sur la dépendance de la largeur de raie électronique du T.M.M.C. en fonction de l'orientation et de la température. Les données expérimentales sont en bon accord avec la théorie sur toute la gamme de températures utilisées (30 à 300 K). Le comportement typiquement 1-d apparait avec un cristal très pur et de préparation récente alors qu'on observe certains caractères 3-d après l'application de forts gradients de température.

PACS
7630F - EPR of iron group 3d ions and impurities Ti Cu.

Key words
EPR line breadth -- molecular orientation -- organic compounds -- paramagnetic resonance of iron group ions and impurities -- orientation -- tetramethylammonium manganese trichloride -- ESR linewidth -- temperature dependence