Numéro
J. Physique Lett.
Volume 40, Numéro 10, mai 1979
Page(s) 215 - 218
DOI https://doi.org/10.1051/jphyslet:019790040010021500
J. Physique Lett. 40, 215-218 (1979)
DOI: 10.1051/jphyslet:019790040010021500

Determination of anchoring energies from surface tilt angle measurements in a nematic liquid crystal

D. Rivière1, Y. Lévy1 et E. Guyon2

1  Laboratoire d'Expériences Fondamentales en Optique, Institut d'Optique Théorique et Appliquée, Bât. 503, Université de Paris-Sud, 91406 Orsay, France
2  Laboratoire de Physique des Solides, Bât. 510, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France


Abstract
The anchoring energy of a nematic liquid crystal can be evaluated from measurements of the tilt angle at the boundary of its substrate. The equilibrium between surface and elastic energies determines the geometric structure of the distortion. For an obliquely evaporated SiO film, the energy value is about 10-3 erg/cm2.


Résumé
En mesurant de manière précise l'orientation des molécules d'un cristal liquide nématique au voisinage d'un substrat, il est possible d'évaluer l'énergie d'ancrage. L'équilibre des forces superficielles et des forces élastiques détermine la structure géométrique de la distorsion. Pour un film de SiO évaporé obliquement, on trouve une énergie voisine de 10-3 erg/cm 2.

PACS
6130E - Experimental determinations of smectic, nematic, cholesteric, and lyotropic structures.

Key words
molecular orientation -- nematic liquid crystals -- anchoring energies -- surface tilt angle -- nematic liquid crystal -- elastic energies -- obliquely evaporated SiO film -- surface energies