J. Physique Lett. 41, 247-250 (1980)
DOI: 10.1051/jphyslet:019800041010024700

Matrix effects in secondary ion emission : quantitative analysis of silicates

A. Havette¹ et G. Slodzian<sup>2

1</sup>  Laboratoire de Pétrographie-Volcanologie, Bât. 504, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France
²  Laboratoire de Physique des Solides, Bât. 510, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France

Abstract
In this paper we establish that the yield of secondary positive monoatomic ions of silicate targets is a linear function of the cationic concentrations. This law can be applied for quantitative analysis of silicates, minerals and glasses, in situations which were practically out of scope until now : small phases (down to 0.5 μm) or trace concentrations (5 x 10-3 to 10-6). It represents a linear approximation which can be qualitatively understood by a bond breaking model.

Résumé
On montre que le rendement en ions secondaires positifs monoatomiques des minéraux silicatés est une fonction linéaire des concentrations cationiques. Cette loi ouvre la possibilité d'analyser quantitativement les minéraux et les verres silicatés dans des domaines pratiquement inaccessibles jusqu'ici : phases de petites dimensions (jusqu'à 0,5 μm) ou faibles concentrations (5 x 10-3 à 10 -6). Un modèle de rupture de liaison permet de comprendre l'origine de cette loi.

PACS
7920N - Atom , molecule , and ion surface impact and interactions.

Key words
glass -- secondary ion emission -- silicate targets -- cationic concentrations -- minerals -- glasses -- bond breaking model